膠粘儀器咨詢：
15962623322
測量芯片封裝過程中的接觸角度,量化封裝處理效果
發(fā)布時間：2023-07-06 點擊次數(shù)：753
光學(xué)接觸角測試儀測量芯片封裝過程中的接觸角度，可以量化封裝處理效果。芯片封裝屬于整個半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈后端環(huán)節(jié)，封裝材料由最開始的金屬封裝，發(fā)展到陶瓷封裝，再到目前占市場95%份額的塑料封裝，其目的都是一致的：保護芯片、支撐芯片及外形、將芯片的電極和外界的電路連通、導(dǎo)熱性能。芯片封裝形式千變?nèi)f化且不斷發(fā)展，封裝質(zhì)量的好壞，將直接影響到電子產(chǎn)品成本及性能。
金屬封裝：氣密性好，不受外界環(huán)境的影響，但價格昂貴，外形靈活性小，現(xiàn)在金屬封裝所占的市場份額已越來越少；
陶瓷封裝：散熱性佳，但是陶瓷需要燒結(jié)成型，成本較高，通常使用在結(jié)構(gòu)較復(fù)雜的集成電路中。在陶瓷封裝中，通常采用金屬膏狀印刷電路板作為粘接區(qū)和封蓋區(qū)。在這些材料表面電鍍鎳和金之前，采用微波等離子清洗，可以去除各種類型的有機污染物，顯著提高鍍層質(zhì)量。
塑料封裝：工藝簡單、成本低，通常使用在結(jié)構(gòu)較簡單、芯片內(nèi)含有CMOS數(shù)目較少的集成電路中。在塑料封裝前，使用微波PLASMA對器件進行清洗，可以增加它們的表面活性，減少封裝空隙，增強其電氣性能。
光學(xué)接觸角測試儀測量芯片封裝前的接觸角度：
通過光學(xué)接觸角測試儀，放置芯片樣品，點擊測量軟件，將其移動到液體的底部。在液體輪廓上點擊兩點，包括液體外線，點擊測量軟件下。接觸角度可一鍵擬合生成數(shù)據(jù)，點擊右鍵保存測量值即可。初始接觸角較大，超過90度，說明測量樣品的潤濕程度較差，疏水性較強。
在芯片封裝過程中，如果接觸角高于90度以上，會導(dǎo)致封裝的效果受到影響，經(jīng)過處理后，接觸角度低于30度。
下一篇：
碳粉粉末狀材料為什么要測量接觸角?
